為什麼需要品質檢測
隨著儲存裝置容量越做越大,使用的記憶體以TLC為主,且使用 INK DIE的數量增加,於是產生了許多有壞塊的儲存裝置。
市面上所販售的記憶卡或閃存裝置品質落差大,容易造成資料毀損,或是讀寫速度上的差異..等。
一般檢測的方法是透過電腦軟體使用H2 test來檢測儲存裝置,但電腦同時檢測越多裝置時速度會越慢,效率低且耗時,EZ Dupe為此提供各種儲存裝置的品質檢測,讓您大幅提升檢測效率。
完善的檢測功能,保障您的產品品質
H3 讀取檢測
可保存原有資料
全面的讀取檢測,不做寫入檢測,可保存原有資料。執行時間最短,但只進行讀取檢測。
H5 讀寫檢測
所有資料會被刪除
全面的讀寫檢測,先以亂數從sector0寫入到最後一個sector,再從sector0做讀取比對到最後一個sector,最後並將合格的儲存裝置格式化。
H6 非使用空間讀寫檢測
有效資料不會被刪除
與H2具有相同的檢測方式,只針對資料空白區做寫入及讀取檢測。有效資料不會被刪除。
H7 假裝置容量檢測
最嚴謹的檢測方式
所有資料區先寫入1次亂數後做比對,再寫入亂數的相反值再做比對,確認所有資料區對資料0及1都可正常讀寫。所有資料會被刪除。可檢測出假容量的儲存裝置。
老化測試
針對儲存裝置做長時間的老化測試,測試產品的耐久及穩定性。 可選擇執行功能及執行輪數。
實際容量檢測
只要1秒鐘,即可檢測記憶卡/隨身碟/儲存裝置的實際容量。
速度測試
可快速檢測記憶卡/隨身碟/儲存裝置的讀寫速度。
在使用以上各種等級的檢測功能時,可搭配以下參數的設定,以達到自動判斷儲存裝置檢測的結果。
檢測裝置範圍設定
設定儲存裝置欲檢測的範圍,可設定百分比或容量大小。
如檢測16GB的隨身碟,可設定檢測範圍為10%,即檢測前1.6GB的區域,若設定檢測1GB,則會檢測前1GB區域。
可容忍的壞塊數量
設定在檢測範圍內,允許壞塊的數量,若低於或等於設定值,則檢測結果為成功,高於則為失敗。
如設定允許壞塊為1MB,檢測結果壞塊數為2MB,則為失敗,若為0.5MB,則為成功。
最低的讀寫速度
分別設定寫入及讀取的最低速度,若高於或等於設定值,則檢測結果為成功,低於則為失敗。
如寫入設定3MB/s,讀取設定10MB/s,測試結果寫入為2.5MB/s,讀取12MB/s,則為失敗,只要讀或寫其中一個低於設定值即為失敗,二者皆高於設定值才判定成功。
儲存裝置的最低容量
每個儲存裝置的容量可能會因開卡結果,會有不同的實際容量。此功能在於快速確認容量是否達標。可設定最低容量,若高於或等於設定值,則檢測結果為成功,低於則為失敗。
如16GB隨身碟,設定最低允許容量為15.6GB,當檢測結果為15GB,則為失敗,若為15.8GB,則為成功。
完成後格式化的格式
檢測結果為成功時,會依此設計來格式化儲存裝置,可設定自動、FAT16、FAT32、exFAT.
設定自動時,容量小於等於2GB,格式化為FAT16,容量介於2GB~32GB時,格式化為FAT32,大於32GB時則格式化為exFAT。